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lcr数字电桥原理、性能特点

变宝网06月18日讯

lcr数字电桥原理本文会详述,lcr数字电桥是一个传统习惯的说法,数字电桥就是能够测电感,电容,电阻,阻抗的仪器,这是一个传统习惯的说法,最早的阻抗测用的是真正的电桥方法,随着现代模拟和数字技术的发展,早已经淘汰了这种测方法,但LCR电桥的叫法一直沿用至今。如果是使用了微处理器的LCR电桥则叫LCR数字电桥。

一、lcr数字电桥原理

数字电桥的测对象为阻抗件的参数,包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q,电容C及其损耗因数D。因此,又常称数字电桥为数字式LCR测仪。其测用频率自工频到约100千赫。基本测误差为0.02%,一般均在0.1%左右。

如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Ur对应于某一参考相的同相和正交分,然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字,再由计算机进行复数运算,即可得到组成被测阻抗Zx的电阻与电抗

数字电桥只是继承了电桥传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流电桥的组成形式,而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。

数字电桥可用于计测试部门对阻抗具的检定与传递,以及在一般部门中对阻抗件的常规测。很多数字电桥带有标准接口,可根据被测的准确度对被测件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统,用于件生产线上对产品自动检验,以实现生产过程的质控制。80代中期,通用的误差低于0.1%的数字电桥有几十种。数字电桥正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。

lcr数字电桥原理、性能特点

二、lcr数字电桥特点

广泛的测对象

半导体件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络件等的阻抗参数测

其它件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。

半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。

液晶材料:液晶单的介电子常数、弹性常数等C-V特性。

多种件、材料特性测能力

多参数混合显示功能

多参数同时显示可满足复杂件各种分布参数的全面观察与评估要求,而不必反复切换测参数。

电感L和其直流电阻DCR可以同时测显示,显著提高电感测效率。

揭示电感器件的多种特性

使用内部/外部直流偏置,结合各种扫描测试功能,可以精确地分析磁性材料、电感器件的性能。

通过偏置电流叠加测试功能,可以精确测高频电感器件、通讯变压器,滤波器的小电流叠加性能。使用外部电流叠加装置,可使偏置电流达40A以精确分析高功率、大电流电感器件。

精确的陶瓷电容测

1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗的特征,同时其容、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。

仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度,六位分辨率和自动电平控制(ALC)功能等,中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。

液晶单的电容特性测

电容-电压(C-Vac)特性是评液晶材料性能的主要方法,常规仪器测液晶单的C-Vac特性遇到一个问题是最大测试电压不够。

使用扩展测选件可提供分辨率为1%及最高达20Vms的可编程测试信号电平,使它能在最佳条件下进行液晶材料的电容特性测

半导体材料和件的测

进行MOS型半导体制造工艺评时,需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数,这些可从C-Vdc特性的测结果推导出来。

通过提供的直流源,结合各种扫描功能,可以方便地完成C-VDC特性的测

为了测试晶圆上的半导体器件,需要延伸电缆和探头,仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至最小。

各种二极管、三极管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。

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